Design for Test: Digitale Kontinuität von der Entwicklung bis zur Produktion mit TestWay

Traditionell werden Fertigungs- und Testbedingungen erst am Ende der Layout-Phase, vor der Übertragung der CAD-Daten in die Produktion, berücksichtigt. Mit TestWay können Anwender des CR-8000 von Zuken ihr Design in jeder Phase des Arbeitsablaufs vom Entwurf bis zur Auslieferung analysieren.

Inhalt

• Gründe für das Testen von elektronischen Baugruppen
• Prüfen der Testbarkeitsregeln beim Schaltplanentwurf, einschließlich Standardprüfungen für
• In-Circuit-, JTAG Boundary-Scan- und Funktionstests.
• Berücksichtigung firmeninternerner Richtlinien für das Design for Test (DfT).
• Minimierung des Bedarfs an Testpunkten durch Simulation der Teststrategie vor dem Layout.
• Optimierung der Platzierung von Testpunkten in der Layoutphase.
• Abschätzung der Testabdeckung für automatische optische Inspektion (AOI), automatische
• Röntgeninspektion (AXI), Boundary-Scan-Test (JTAG), Flying-Probe-Test (FPT), In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest.
• Generierung von Montage-, Prüf- und Testprogrammen für die Produktion.
• Nutzung des digitalen Zwillings für die Zertifizierung der implementierten Programme im Hinblick auf die Erfüllung der Qualitätsanforderungen.

Referent

Christophe Lotz
President
Aster Technologies

Christophe verfügt über 35 Jahre Erfahrung im Bereich Test und Design for Test. Er begann als Ingenieur bei der französischen Marine, wo er für die Erstellung von Militärstandards für Design und Test sowohl für Platinen als auch für Systeme zuständig war. Anstelle von Handbücher mit Anweisungen, die Designer lesen müssen, beschloss er, Werkzeuge zu entwickeln, die die Analyse automatisieren können. Vor 28 Jahren gründete Christophe ASTER Technologies und treibt nun die Forschung und Entwicklung voran, um die modernsten Software-Tools zu entwerfen und zu entwickeln, die das Design for Test, die automatische Testabdeckungsanalyse und das Verständnis für das Auftreten von Fehlern automatisieren.